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VPC-COMPACT-SE®:微电子包装中腐蚀的预测和建模万博网站在哪里

版本9.20.

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VPC-Compass-SE的概述和应用示例

VPC-COMPACT-SE是市场上唯一的设备和OS独立的软件工具,用于微电子包装中腐蚀的预测和建模。万博网站在哪里设计师,OEM工程师,QA / QC和检测工程师可以快速确定微电子包装中的腐蚀和其他可靠性问题的风险排名,例如电化学迁移(ECM),树突式形成/金属树和表面电导率。万博网站在哪里VPC-COMPACT-SE还预测内腔中的相对湿度或水分含量,腔内的露点温度,内表面上的单层的单层数量,内表面上的水分膜的厚度,以及水分膜的表面电导率。VPC-COMPACT-SE在任何运行任何操作系统的设备上工作,无需安装或下载任何内容。

下面的数字显示了VPC-Compass-SE的屏幕截图。

图1 VPC-COMPACT-SE预测腐蚀和电化学迁移(ECM)的风险:设计参数万博网站在哪里

VPC-COMPAR-SE的用户首先从下拉列表中选择包装设计(隐密集和非密封)。输入参数包括腔/页面和内表面区域的内部容积(以cm为单位)2)到体积(以cm3.)比例,如下图2所示。

图2 VPC-COMPACT-SE预测腐蚀和电化学迁移(ECM)的风险:环境参数万博网站在哪里

环境参数包括温度、湿度/相对湿度和其他气体。以微水含量(ppmv)作为输入,用VPC-Compass-SE预测空腔内的相对湿度;如果以相对湿度作为输入,则通过VPC-Compass-SE预测空腔内的水分含量,如下图3所示。

图3 VPC-COMPACT-SE预测腐蚀和电化学迁移(ECM)的风险:输入RH万博网站在哪里

在上文所示的规定包装设计和环境条件下,腐蚀和电化学迁移(ECM)的风险低,因为几乎没有电解质(水分)以支持腐蚀和/或ECM过程。万博网站在哪里内部体积中预测的水分含量为15,658ppmv,预测的露点温度为12.19℃,预测内层的单层单层数量为11,湿膜的厚度为3nm,以及表面的导电性水分为5.12 x 10-9ω.-1。厘米-1。当内表面区域到体积比从30到10变化(下面图4)时,腐蚀和电化学迁移的风险很高。万博网站在哪里然而,如果内表面区域到体积比变为40(图5),则没有腐蚀或电化学迁移的风险。万博网站在哪里

图4 VPC-COMPACT-SE预测腐蚀和电化学迁移的风险(ECM):表面积对体积比的影万博网站在哪里响,风险高

图5 VPC-COMPACT-SE预测腐蚀和电化学迁移的风险(ECM):表面积对体积比的影万博网站在哪里响,没有风险

图6 VPC-COMPACT-SE预测腐蚀和电化学迁移(ECM)的风险。万博网站在哪里

在上述规定的包装设计和环境条件下,腐蚀和电化学迁移的风险低,因为存在几乎足够的电解质(水分)以支持腐蚀和/或ECM过程。万博网站在哪里内部体积的预测相对湿度为17%,预测的露点温度为-6.675℃,预测内表面上的单层数量为3,预测的湿膜的厚度为0.87nm,并且预测表面湿度的电导率为2.445 x 10-11ω.-1。厘米-1

VPC-COMPACT-SE的强大应用在封装设计设计,腐蚀预测和可靠性评估,过程控制,故障排除和系统的故障分析中真正无限制。万博网站在哪里

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